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非接觸式變形測量引伸計

  • 更新時間:  2023-02-24
  • 產品型號:  FL
  • 簡單描述
  • 非接觸式變形測量引伸計是一種非接觸、光學應變測量引伸計裝置,配合萬能材料拉伸壓縮試驗機用于測量試樣的變形變化,無需在試驗過程中接觸試樣。在整個馥勒拉伸試或壓縮測試期間,直到試樣斷裂,都可以進行測量。可以實現全程變形測量,跟蹤至試樣斷裂。
詳細介紹

一、非接觸式變形測量引伸計簡介:

非接觸式變形測量引伸計是一種非接觸、光學(xue)應(ying)變(bian)(bian)測(ce)(ce)量引伸(shen)(shen)(shen)計裝置,配(pei)合萬(wan)能材料(liao)(liao)拉(la)伸(shen)(shen)(shen)壓縮(suo)試(shi)(shi)(shi)驗機(ji)用于測(ce)(ce)量試(shi)(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)的(de)變(bian)(bian)形變(bian)(bian)化,無需在試(shi)(shi)(shi)驗過(guo)程中接觸試(shi)(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)。在整(zheng)個(ge)馥勒(le)拉(la)伸(shen)(shen)(shen)試(shi)(shi)(shi)或壓縮(suo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)期間,直到試(shi)(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)斷裂(lie)(lie),都(dou)可(ke)以(yi)進(jin)行測(ce)(ce)量。可(ke)以(yi)實現全程變(bian)(bian)形測(ce)(ce)量,跟蹤至(zhi)試(shi)(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)斷裂(lie)(lie)。該引伸(shen)(shen)(shen)計應(ying)用于任何材料(liao)(liao)、金屬、塑料(liao)(liao)、復合材料(liao)(liao)的(de)應(ying)變(bian)(bian)變(bian)(bian)形測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi),彈性模量測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)等。

二、非接觸引伸(shen)計特(te)點:

非接觸(chu)式(shi)引伸(shen)(shen)計(ji)系統包(bao)括(kuo)攝像機、3D云臺、測(ce)控系統及軟(ruan)件(jian),馥(fu)勒提(ti)供用(yong)(yong)于(yu)(yu)平(ping)面樣(yang)品的(de)LED照明或(huo)用(yong)(yong)于(yu)(yu)圓(yuan)柱形或(huo)平(ping)面樣(yang)品的(de)圓(yuan)頂(ding)燈(deng)。3D云臺安(an)裝在可(ke)調(diao)整的(de)支架(jia)上,并且可(ke)以朝向或(huo)遠(yuan)離(li)樣(yang)品移動,以調(diao)整不同的(de)視(shi)野。馥(fu)勒光學視(shi)頻引伸(shen)(shen)計(ji)系統適用(yong)(yong)于(yu)(yu)金屬、箔、復合材料(liao)或(huo)塑(su)料(liao)的(de)拉伸(shen)(shen)測(ce)試(shi)、壓縮測(ce)試(shi)等。其視(shi)野范圍從2mm~200mm,根據(ju)(ju)ISO 9513(或(huo)當(dang)量)的(de)精度(du)可(ke)達1級(ji)或(huo)更(geng)高(gao),分辨率(lv)為(wei)1μm。它(ta)適合于(yu)(yu)根據(ju)(ju)ISO 10113和10275(GB/T5027和GB/T5028)測(ce)量R值,N值,并根據(ju)(ju)ISO 6892(GB/T228)測(ce)量彈性段(duan)應變、Fm伸(shen)(shen)長(chang)率(lv)和斷裂伸(shen)(shen)長(chang)率(lv);

三(san)、主要(yao)技術參數

3.1變形測量范圍2mm、25mm、50mm、100mm、200mm等可選(xuan);

3.2變形分(fen)辨(bian)率(lv):1μm、2μm;

3.3試驗數據采樣(yang)頻(pin)率30-200 Hz;

3.4實時測量(liang)試(shi)樣的應(ying)變數(shu)據功(gong)能;

3.5鏡(jing)頭(tou)和濾光器、頂(ding)光(可選LED光條)攝像機云臺(tai);

3.6測(ce)量(liang)可以通(tong)過可選的模擬量(liang)模塊輸出,采樣頻率高達500赫茲;

3.7在馥勒試驗機(ji)測(ce)控軟件(jian)中,可(ke)進行分析圖像、校(xiao)(xiao)準(zhun)曲(qu)線,將所得的(de)測(ce)量值(zhi)轉(zhuan)換成毫米等操作(zuo)。通過曲(qu)線還(huan)可(ke)校(xiao)(xiao)正光學系統的(de)任何失(shi)真、跳動或失(shi)準(zhun)。校(xiao)(xiao)準(zhun)是否精確取決(jue)于相機(ji)安裝固(gu)定(ding)是否牢固(gu),并且焦點保持(chi)在恒定(ding)的(de)與預設范圍內;

3.8變形測量引(yin)伸計校準曲線將自(zi)動計算,新的結果可以實時存儲和記錄,為圖像分(fen)析(xi)做(zuo)好準備;

3.9更多關于光學引(yin)伸(shen)計技術方案資料選型(xing)等請聯系馥勒(le)技術工程師。



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